单双晶超声波测厚仪UC750

概述

单双晶超声波测厚仪UC750采用超声波测量原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。

此仪器可对板材和加工零件做准确测量，另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

主要功能

● 单双晶超声波测厚仪UC750采用“杂波飞渡技术"，一方面可以实现超薄件的测量，最小厚度（钢）可达0.15mm；另一方面可以实现高精度测厚，分辩率可达0.001mm；

● 增加双晶5M、7M探头，实现0.15-300mm的大量程高精度测量。

● 两种测量模式底波-回波模式满足常规厚工件测量

回波-回波模式满足薄工件测量精度高）

● 可穿越表面涂层进行测量；

● 探头放在测厚仪试块上按键自动调零；

● 有LED背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；

● 具有声速校准（反测声速）或单点校准功能；

● 可以进行报警设置和差值模式设置；

● 公英制转换；毫米和英寸可切换单位

● 可存储5种不同材料的声速

● 可选配4mm单晶探头、双晶（4mm探头、2M高穿透探头、7M小管径探头）

适用材料

适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。

基本原理

超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

技术参数

材料声速表

产品展示